Přístrojové vybavení Oddělení Optoelektronické jevy a materiály

Stejnosměrná a střídavá elektrická vodivost a fotovodivost v teplotním rozsahu 10 až 400 K. Fotoelektrická měření ve spektrálním oboru 200 až 800 nm. Měření kvantové účinnosti fotogenerace nosičů náboje vysokoodporových materiálů metodou xerografického vybíjení. Měření charakteristik organických tenkovrstvých tranzistorů a solárních článků.

• Přístrojové vybavení:

• Variabilní uspořádání měřících přístrojů (elektrometry a stabilizované zdroje Keithley, stacionární a pulzní světelný zdroj s xenonovou výbojkou, 1/4 m monochromátor Jobin Yvon, radiometr EG&G 580, heliová vysokovakuová nízkoteplotní aparatura s uzavřeným cyklem Displex firmy AirProducts). 

Měření driftové pohyblivosti nosičů elektrického náboje, průletové charakteristiky, efekty prostorového elektrického náboje a záchytu nosičů náboje, měření kvantové účinnosti fotogenerace volných nosičů náboje v polymerních tenkých vrstvách kinetickými metodami s nanosekundovým časovým rozlišením.

• Přístrojové vybavení:

• NdYAG laser Surelite I a barvivový laser ND-60 se dvěma optickými zdvojovači firmy Continuum, šířka pulsu 3-6 ns, spektrální oblasti 550-770 nm a 270-370 nm, energie pulsu 1-5 mJ v UV oblasti, 30 mJ ve viditelné oblasti, 200 mJ při 532 nm a 450 mJ při 1064 nm, 10 Hz opakovací frekvence s možností jednotlivých pulzů a externí synchronizací.
• Jako záznamová jednotka je použit digitální paměťový osciloskop Hewlett-Packard 5410 B. 

Měření fotochromního jevu a elektroluminiscence organických materiálů včetně studia kinetik (s milisekundovým časovým rozlišením) a teplotní závislosti.

• Přístrojové vybavení:

• Spektrofotometr UV-VIS s vysokocitlivou detekční hlavou EG&G 585 a termostatem (Haake H40/F6), spektrometr pro měření termostimulované absorpce vlastní výroby.

Mikrovlnná fotovodivost v polymerech, měření kinetiky fotoindukovaných iontových párů.

• Přístrojové vybavení:

• Mikrovlnný zdroj v Ka-pásmu, detektor odražené energie, NdYAG laser a barvivový laser ND-60 (viz výše).

Příprava tenkých vrstev organických materiálů a vícevrstvých systémů složených z různých organických materiálů a kovů deponovaných ve vakuu, měření tloušťky křemenným oscilátorem, rotační nanášení z roztoku polymeru.

• Přístrojové vybavení:

• Přístroj pro rotační nanášení, vysokovakuové napařovací zažízení, monitor tloušťky s křemenným oscilátorem, profilometr.

Laserová ablace.

• Přístrojové vybavení:

• Laser NdYAG Surelite firmy Continuum (viz výše).