Přístrojové vybavení Morfologie a reologie  polymerních materiálů

Mikroskopie

Světelná mikroskopie

• mikroskop DM6000 M (Leica), s mikrotvrdoměrem
• mikroskop Nikon80i (Nikon), s miniaturním trhacím strojem
• mikroskop Zetopan Pol (Reichert)
• stereomikroskop SMZ-2T (Nikon)
• vybavení světelných mikroskopů: prošlé a odražené světlo; polarizované světlo; světlé pole, temné pole, fázový kontrast; fotometrie; mikrovýhřevné stolky: Mettler FP52/FP5, Linkam THMS 600/TMS 9

Rastrovací elektronová mikroskopie

• Quanta 200 FEG (FEI), FEG mikroskop s vysokým rozlišením (2nm), režimy HVSEM, LVSEM, ESEM, detektory SE, BSE, STEM and EDX
• Vega Plus TS 5135 (Tescan): detektory SE, BSE, STEM
• JSM 6400 (Jeol): detektory SE, BSE, STEM

Transmisní elektronová mikroskopie

• Tecnai G2 Spirit (FEI): 120kV, bright/dark field (BD/DF), electron diffraction (ED), microanalysis (EDX), digitální kamera
• JEM 200CX (Jeol): 100kV, bright field, digitální kamera

Příprava vzorků pro mikroskopii

• Ultramikrotomy s cryo-nástavci: Ultrotome III (LKB), Ultracut UCT (Leica)
• Mikrotomy: Sledge microtome (Meopta), Rotary microtome RM 2155 (Leica)
• Vacuum sputter coaters: SCD 050 (Balzers), SCD 050 (Leica)
• Vacuum evaporation device: JEE-4C (Jeol)
• Critical point dryer (Balzers)
• Plasma-etching device

Reologie

• Reometr Physica MCR 501 (Anton Paar)
  • přídavný modul pro in-situ světelnou mikroskopii (P-ETD300/GL, Microscope option)
  • přídavný modul pro in-situ statický rozptyl světla (Small-angle Light Scattering System, SALS option)

(Mikro)mechanické vlastnosti

• Mikrotvrdoměr VMHT AUTO man (UHL)
• Miniaturní trhací stroj Tensile Stress Testing System - TST350 (Linkam)
• Creep v tahu i tlaku, řízeno pomocí PC